電容器的損壞、失效有以下幾種情況：

　　1）電容器容量消失引起的失效、完全漏電或爆漿，是電源中電容出現(xiàn)故障后*難判別與維修的故障，因為測量電容器件，用萬用表測試一切正常，但將電容安裝在電路上后，電容的容量就完全消失，這是電路中*難維修的軟故障之一，即元器件不能承受電壓，一有電壓的存在，容易就完全消失。

　　2）電容內(nèi)部的短、斷路損壞，故障現(xiàn)象是燒開關(guān)管及其他限流元器件，如保險與開關(guān)電源中的限流電阻。電容短、斷路損壞工作在高電壓、大電流（例如彩電的開關(guān)電源、行輸出電路）中的濾波電容器，當因某種原因使電壓升高，并超過其耐壓值時，使之擊穿短路損壞，或由于整流二*管損壞后使有*性的電解電容器相當于工作在交流電路中，在較大的反向漏電流下發(fā)熱而短路損壞。由于短路時流過電容器的電流很大，一般電容器都會爆裂或使其封口膠塞脹出。濾波電容短路后，常出現(xiàn)保險絲或限流電阻燒斷、電源厚膜塊或開關(guān)管、整流管擊穿之類的故障。主要表現(xiàn)為整機“三無”，這種故障在各類開關(guān)電源中帶有共性。

　　3）電容器容量降低引起的低效或輕微漏電，其故障現(xiàn)象是電視圖像“S”形扭曲或行不同步現(xiàn)象，對于現(xiàn)在的用IIC總線的電視機出現(xiàn)一些特別的故障現(xiàn)象，如果因影響使同步牌臨界狀態(tài)，伴音大可能影響到電視機的質(zhì)量，使得伴章隨時出現(xiàn)。主要原因是電容器的參數(shù)改變，但沒完全失效，在一定程度上還有作用，但達不到應有的作用，使得現(xiàn)有的故障現(xiàn)象出現(xiàn)。而且此類故障不好判斷與排除。

　　爆漿的種類：分兩類，輸入電容爆漿和輸出電容爆漿。

　　對于輸入電容來說，就是在電源電路中體積較大、容易較大、額定電壓高的電容器，對接收到的電流進行過濾。輸入電容爆漿和電源輸入電流及電容器本身的品質(zhì)有關(guān)。過多的毛刺電壓，峰值電壓過高，電流不穩(wěn)定等都使電容過于充放電過于頻繁，長時間處于這類工作環(huán)境下的電容，內(nèi)部溫度升高很快。超過泄爆口的承受*限就會發(fā)生爆漿。

　　對于輸出電容來說，對經(jīng)電源模塊調(diào)整后的電流進行濾波與儲能。此處電流經(jīng)過一次過濾，比較平穩(wěn)，發(fā)生爆漿的可能性相對來說小了不少。但如果環(huán)境溫度過高，電容同樣容易發(fā)生爆漿。

　　電容爆漿的原因有很多，比如電流大于允許的穩(wěn)波電流、使用電壓超出工作電壓、逆向電壓、頻繁的充放電等。但是*直接的原因就是高溫。我們知道電容有一個重要的參數(shù)就是耐溫值，指的就是電容內(nèi)部電解液的沸點。當電容的內(nèi)部溫度達到電解液的沸點時，電解液開始沸騰，電容內(nèi)部的壓力升高，當壓力超過泄爆口的承受*限就發(fā)生了爆漿。所以說溫度是導致電容爆漿的直接原因。電容設計使用壽命大約為2萬小時，受環(huán)境溫度的影響也很大。電容的使用壽命隨溫度的增加而減小，實驗證明環(huán)境溫度每升高10℃，電容的壽命就會減半。主要原因就是溫度加速化學反應而使介質(zhì)隨時間退化失效，這樣電容壽命終結(jié)。為了保證電容的穩(wěn)定性，電容在插板前要經(jīng)過長時間的高溫環(huán)境的測試。即使是在100℃，高品質(zhì)的電容也可以工作幾千個小時。同時，提到的電容的壽命是指電容在使用過程中，電容容量不會超過標準范圍變化的10%。電容壽命指的是電容容量的問題，而不是設計壽命到達之后就發(fā)生爆漿。只是無法保證電容的設計的容量標準。

所以，短時期內(nèi)，正常使用的板卡電容就發(fā)生爆漿的情況，這就是電容品質(zhì)問題。另外，不正常的使用情況也有可能發(fā)生電容爆漿的情況。